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能谱分析
- 利用基于规则的识别和峰形去卷积方法，快速准确识别元素峰
- SpectraCheck 技术可利用谱图模拟和比较规则—提供重叠谱峰和表示拟和优度的卡方值，通过目测和统计方式确认元素的存在
- 元素峰参考提供通过典型 EDS 系统采集得到的完整能谱峰形集
- 这些峰形的强度会自动校正以匹配显微镜检测器—无需定期根据标准来校正系统
- 采用 PROZA Phi-Rho-Z 基体校正算法
- 集成电子成像和 X 射线分析
- 只需单击鼠标即可对所选感兴趣区域进行元素识别和定量分析
- 利用点、矩形、圆、多边形或使用魔术棒工具确定样品区域
- 利用魔术棒工具可轻松选取复杂区域，无需手动绘制边框
- 只需点击一次即可基于灰度值自动作出选择
- 瞬时分析所选区域或选择多区域进行同时分析
- 根据所选设置进行处理
- 能够提供所需能谱结果--具有完整标准的定性分析到定量分析
- 采集每一点处的能谱图--对成像、X 射线面分布、线扫描和高级自动化分析非常有用
- NORAN System 7 能够采集可进行重复分析的数据，无需重新采集或更改采集参数--只需点击一次即可
- 在显微镜本地分析采集数据，或将数据离线复制至另一台计算机制作报告
- 允许实验室中的所有人员执行相同的分析并获得一致的结果
- 采用功能强大的多变量统计算法，由 Paul Kotula 等人创建并由 Sandia国家实验室授权
- 采用高级算法，在数据仍被采集时Direct-to-Phase软件能够提取并显示已知相
- 允许 EDS 系统决定合适采集到足够的统计数据，或可视化正在建立的数据
Direct-to-Phase软件
- 同时进行数据分析和数据采集 - 实时相分析速度
- 不仅在分布图和谱图中显示元素数据，还能生成信息丰富的样品组成图--生成完整数据的速度比当前X 射线微区分析技术快10倍
处理中......