NIKON仪器， C2+共聚焦显微镜系统，尼康广东深圳、广西、香港一级代理商铭科公司，尼康显微镜售后维修站

实验室必备显微设备

       C2+共聚焦显微镜系统是新研发的Nikon 共聚焦仪器的一部分，新开发的产品为必要的实验室显微镜工具。由于产品有令人难以置信的稳定性，操作简易，且有优越的光学性能和高速图像采集（可达100 帧/秒*）能力。 C2+可作为出色显微镜工具（新购置），或将已有的尼康显微镜升级为C2+共聚焦系统。

配置Ni-E正置显微镜

 | 图像质量                                    

         Nikon 无与伦比的光学组件和久经考验的高效光学设计可在最远的工作距离下提供最明亮与最清晰的图像。

 • 高效扫描头和检测器

   具备方便小巧的扫描头， 使C2+可用于各类Nikon 显微镜。C2+使用高精度振镜与优质圆形光学针孔，分离式检测有效隔离热原同噪音，可获取低噪音，高对比度与高品质的共聚焦图像。新开发的扫描驱动系统和Nikon独有的图像校正技术，允许8帧/秒（512 x 512像素）和100 帧/秒（512 x 32 像素）的高速成像。

 • 高性能光学镜头   

CFI复消色差λS系列

   此系列高数值孔径（NA）物镜为共聚焦拍摄的理想之选，其对宽波长范围自紫外光具有色差校正功能。尤其是LWD 40 ×WI物镜色差校正可达红外范围。使用Nikon独有的纳米晶体涂层技术可有效增加光线透过率。

CFI Apochromat 40xWI λS, NA1.25 (左)；CFI Apochromat LWD 40xWIλS, NA1.15 (中)；CFI Apochromat 60x Oil λS, NA1.4 (右) 

CFI复消色差TIRF 系列 

   此系列物镜的NA值为1.49 （使用标准的盖玻片和浸油），在Nikon物镜中具备最高的分辨率。配备温度校正环可在23°C～37°C温度范围对图像质量进行校正。

CFI Apochromat TIRF 60x oil, NA1.49 (左)；CFI Apochromat TIRF 100x oil, NA1.49 (右) 

 • 高清晰度微分干涉（DIC）图像

         C2+能同时获得三个通道的荧光，或同时实现三通道荧光与透射微分干涉（DIC）的观察。高品质DIC图像和荧光图像可以叠加,以便进行形态分析。

DIC图像                                     DIC+荧光图像

 | 高功能                                                   

   高效图像处理软件NIS-Elements提供各种图像处理和分析功能。并可从图像中提取数据。此外，NIS-Element 可实现Nikon 显微镜和其他第三方外设，如EMCCD相机和滤光轮的直接操作，使其可适用于各类实验应用。

 • 多种拍摄模式   

   单一软件包即可提供各种成像方法，如共聚焦、宽视野、TIRF 、光活化，并同时具有图像的处理、分析和呈现的功能。用户可在统一的界面与工作流程中轻松掌握控制不同的成像系统。

  

  易于辨识的激光与探测器设置               扫描阐述设置

 | 灵活性                                       

        C2+可与正置、倒置、电生理和宏观成像显微镜联合使用，且可以与各种高质量研究试验系统联合使用。可用NIS-Element 软件控制所有的尼康显微镜系统。

 • TIRF/光活化-C2+多模式成像系统

   可整合选配的TIRF 激光照明模块和与光活化模块，实现高S/N比单分子成像，并捕捉光活化与光转化中荧光蛋白荧光特征变化图像。

 • AZ-C2+宏观共聚焦系统

   在高清晰度的大视野下，超过1 cm的大样本都可获取高S/N比的图像。AZ-C2+可获取完整样品的图像，如胚胎，单次拍照，高达2048×2048像素分辨率，并可使用C2si+获得32通道光谱数据。可将低倍率与高倍率物镜，光学变焦和共焦扫描变焦功能相结合，从宏观到微观连续成像。